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产品简介
介电常数和介质损耗测试仪 型号：HAD-Y2855由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对缘材料行频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
产品分类
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| 产地类别 | 国产 |
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介电常数和介质损耗测试仪 型号：HAD-Y2855
HAD-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对缘材料行频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。HAD-Y2855作频率范围是100kHz～100MHz,它能成作频率内材料的频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器般用来夹被测样品，配用Q表作为示仪器。缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用HAD-Y2852A或HAD-Y2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
点：
本公司新的自动Q值保持，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005。
能对固体缘材料在100kHz～100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态，调谐电容值等。
Q值量程自动/手动量程控制。
DPLL合成发生1kHz～70MHz（HAD-Y2852D）, 50kHz～160MHz（HAD-Y2853D）测试信号。立信号源输出口，
所以本机又是台合成信号源。
测试装置符合标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2 主要标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%
Q表
型号 | HAD-Y2851 | HAD-Y2852D | HAD-Y2853D |
作频率范围 | 50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器 | 1kHz～70MHz 四位数显，数字合成 度：±50ppm | 50kHz～160MHz 四位数显，数字合成 度：±50ppm |
Q值测量范围 | 1～1000 针，±1Q分辨率 | 1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 | 1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 | 40～500 pF ΔC±3pF | 40～500 pF ΔC±3pF | 13～230 pF |
电容测量误差 | ±1%±1pF | ±1%±1pF | ±1%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH | 约20nH | 约8nH |
2.3 介质损耗装置：
| 以下是引用片段： |
2.3.1 平板电容器片尺寸：
HAD-Y916D:Φ38mm和Φ50mm二种.
HAD-Y915:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：
0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性：
0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：
±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：
25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:
≤2.5×10-4
2.4 电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配100μH或250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
2.5 频介质样品（选购件）：
在现行频介质材料检定系统中，检定为频介质损耗测量仪提供的测量标准是频标准介质样品。该样品由人蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。
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