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多模式声波测厚仪 可穿涂层声测厚仪 型号HAD-T192 HAD-T192声波测厚仪,基于声波测量原理,可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种声波的良导体材料行厚度测量,也可实现对材料声速的反测。
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多模式声波测厚仪 可穿涂层声测厚仪 型号HAD-T192
多模式声波测厚仪HAD-T192声波测厚仪,基于声波测量原理,可对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他多种声波的良导体材料行厚度测量,也可实现对材料声速的反测。与传统的测量方法相比,声波测厚仪的优势在于它只要接触到被测件的面即可成测量,其的可穿透涂层测厚度的性能为表面涂有油漆或防腐材料的件厚度检测提供了更加效的解决方案,测量前处理掉表面的涂层,可以直接测量。被广泛应用于石油、化、冶金、船、航空、航天等域的设备中各种管道及压力容器腐蚀减薄程度的监测,也可用于对各种板材及各种零件做的测量。是提效率与合格率、节约成本的业仪器。
HAD-T192能用途
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他何声波的良导体的厚度具有两种测厚模式:发射-回波模式和回波-回波模式,可以穿透涂层行厚度测量而不计入涂层厚度
具有探头零点校准、两点校准能, 可对系统误差行自动修正
已知厚度可以反测声速,以提测量度
具有耦合状态提示能
有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用
有剩余电量示能,可实时显示电池剩余电量
具有自动休眠、自动关机等节电能
带有USB接口,可以方便、快捷地与PC机行数据交换
可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用
可选择配备微机软件,具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富能
本声波测厚仪对厚度的测量,是由探头产生声波脉冲透过耦合剂到达被测体,分声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,地计算声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。
H=v×t/2
式中: H-测量厚度
v-材料声速
t-声波在试件中往返次的传播时间
为确保探头正常作,需使用耦合剂以隔探头表面与待测件表面间的空气,这种液体用于探头及件间的耦合,称之为耦合剂
环境温度:操作温度-20℃~+50℃
存储温度:-30℃~+70℃
相对湿度≤90%
周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘
HAD-T192点
大容量存储,低耗,可长待机数月以上
已知厚度可以反测声速,满足多种材料的厚度检测需求
附带USB数据处理软件,可连接电脑行数据分析、存储、打印等
可以兼容多种不同频率、不同晶片尺寸探头,自动识别温、粗晶、小管径等不同探头类型
具有探头零点校准、两点校准能, 可对系统误差行自动修正
配备窄脉冲复合材料晶片的度探头,盲区小、测量
有EL背光显示,方便在光线昏暗环境中使用
设有自动休眠、自动关机等节电能、剩余电量示能
小巧、便携、可靠性,适用于恶劣的操作环境,抗振动、冲击和电磁干扰
HAD-T192参数
测量范围 发射-回波模式(0.65~600)mm(钢中,探头分段适用);回波-回波模式下(3~60)mm(钢中,P5EE探头)
作频率 (2.5-7)MHZ
探头直径 测厚探头NO5直径10MM、微晶探头N07直径6MM、温探头HT5直径12MM、窄脉冲测厚探头P5EE直径10MM、粗晶探头直径12MM
小管径 Φ15mm×2.0mm
分辨率 0.1mm/0.01mm可选
示值误差 ±0.05mm(≤10mm时);(±0.5%H+0.01)mm(>10mm时);H为被测物厚度
测量周期 单点测量时每秒钟7次、扫描模式每秒钟16次
显示 对比度的段码液晶显示(支持EL背光显示)
声速范围 (1000~9999) m/s
测厚模式 发射-回波模式(P-E)和回波-回波(E-E)模式
探头校准 零点校准、两点校准
反测声速 支持,可对已知厚度物体反测声速
显示模式 单点测量、值测量和差值测量
单位制式 公制(mm)或者英制(inch)
作语言 中文
存储 可存储20组(每组多100个测量值)厚度测量数据
通讯接口 USB1.1
数据打印 连接电脑打印
供电 3V(2节AA尺寸碱性电池)
节电方式 具有自动屏幕待机、自动休眠、自动关机等节电能
持续作时间 大于50小时(不开背光时)
环境温度 操作温度-20℃~+50℃;存储温度:-30℃~+70℃
相对湿度 ≤90%
外壳材质 ABS程塑料
外型尺寸 150mm×74mm×32 mm
整机重量 1.3KG