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涂镀层测厚仪 仪器特点:■ 小巧实用、测量快速精确■ 探头顶部由非常耐磨的硬质材料制成■ F型探头用于钢铁上的非磁性涂镀层,如油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等■ N型探头用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的所有绝缘层,如阳极氧化膜、油漆、涂料等■ FN型探头为最新开发的两用探头,可以在磁性和非磁性基体上自动转换测量
产品分类
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应用领域 | 能源,电子,交通,汽车,电气 | 测量范围 | F型:0~3000um |
涂镀层测厚仪 型号;H13420
涂镀层测厚仪 仪器特点: ■ 小巧实用、测量快速精确
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2.植物营养测试仪/植物营养检测仪 型号:H13418
产品简介
H13418 植物营养测试仪是一款自动化程度很高的土肥专用检测设备,它可以指导农民合理施肥,提高肥料养分利用率,提高作物产量。
仪器特点
检测植物的氮、磷、钾、盐、钙、镁等
技术指标
* 通道数量:12 通道
* 波长:410nm, 535nm, 589nm, 640nm
* 显示:5 寸大屏幕全中文液晶显示
* 存储:10000 个以上测试结果
* 接口:USB
* 打印:内臵热敏打印机
* 漂移:≤0.003Abs/3min
* 透射比准确度:±2%
* 透射比测重复性:≤0.3%
* 各通道误差:±1.0%
* 电源输入:16V DC 3A
* 仪器重量:2.5Kg
* 仪器尺寸:340X240X120mm
3.椭圆偏振测厚仪 偏振测厚仪 测厚仪 型号:H13414
在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。
产品特点:
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点;
光源采用氦氖激光器,功率稳定、波长精度高;
仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件,方便用户使用。
规格与主要技术指标:
测量范围:薄膜厚度范围:1nm-300nm; 折射率范围:1-10
测量最小示值:≤1nm 入射光波长:632.8nm
光学中心高:80mm 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm
偏振器方位角范围:0°- 180°读取分辨率为0.05°
测量膜厚和折射率重复性精度分别为:±1nm和±0.01
主机重量:25kg 入射角连续调节范围:20°- 90°精度为0.05°
成套性:主机、电控系统、计算软件
外形尺寸:680*390*320mm
4.ATP荧光检测仪/手持式ATP荧光检测仪/便携式ATP荧光检测仪 型号:H13404
仪器简介
ATP 荧光检测仪是基于ATP生物发光计数的原理测定样品中微生物污染程度的快速检测设备。
通过测定荧光信号的强度即可得知待检目标被细菌、食物残渣等污染的程度,因此检测ATP可作为判断是否洁净的指标。
仪器特点
* 结果定量化:检测极限达到 4*10-18mol ATP;
* 检测快速实时化:10 秒检测一个标本;
* 体积微型手持化:重约260克;
* 功耗超低化:锂电池,可连续工作 20小时;
* 操作自动化:按键少,人机界面友好;
* 控制智能网络化:数据可传至电脑,智能判断菌落是否超标;
* 试剂开放化:适合多个厂家的ATP 检测试剂。
技术指标
* 检测时间:10秒
* 检测范围:0~9999 RLUs
* 最小检出限:4*10-18mol ATP
* 检测重复性:≤15%
* 相关系数:≥0.995
* 检测误差:±5%或±5 RLUs
* 本底值:<2RLU
* 限值组数:100组
* 存储容量:2000条
* 操作温度范围:5℃到 40℃
* 操作相对湿度范围:20~80%
* 存储温度范围: -10℃到 40℃
* 存储相对湿度范围:20%~95%
5.手持式电导率/电阻率/TDS/盐度测试仪 型号:H13402
* 可测量电导率,电阻率,盐度,TDS和温度
* 可连接各种标准电导率电极,不同电极可分别设定测量配置参数
* 自动量程,自动读数功能,响应时间10秒,重复性<0.5%
* 电导常数可自动校准或手动调节
* 存储功能,可手动存储200组测量数据,每组数据包括测量值,温度,日期,时间,编号及测量时的校准状态等
* 背光显示及自动关机功能(可在10min-24h之间设定)
以上参数资料与图片相对应